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　　SynTest Technologies, Inc.、相次いで基本特許取得
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　　 弊社の親会社であるSynTest Technologies, Inc.は、この程ロジックBIST、
　　スキャン回路のat-speed testに関するUSに於ける基本特許を取得しました。
　　これは、マルチクロックドメイン間の故障を検出する“staggered launch-
　　on-capture” または “staggered double-capture”と呼ばれるマルチキ
　　ャプチャ技術です。
　　より詳しくは、以下のURLをご覧下さい。
　　http://www.syntest.com/PressReleaseArchive/PR_At-Speed-LBIST_Patent_
　　final.pdf

　　これに先立ち、昨年10月にやはりマルチクロックドメイン間のat-speed test
　　を可能にする、“staggered skewed-load” または “staggered launch-on-
　　shift”と呼ばれるマルチキャプチャ技術の基本特許も取得しております。
　　この技術は、従来技術に比べてテストパタン数を大幅に低減することができ
　　るものです。
　　より詳しくは、以下のURLをご覧下さい。
　　http://www.syntest.com/PressReleaseArchive/At-Speed-staggered-skew-
　　load_Patent_PR_final.pdf

　　更に、同じく昨年10月にRTLレベルでのスキャン回路合成技術の基本特許も取
　　得しています。
　　より詳しくは、以下のURLをご覧下さい。
　　http://www.syntest.com/PressReleaseArchive/Scan-synthesis-at-RTL_PR_
　　Final.pdf

    これらの他にも、SynTest Technologies, Inc.は20以上の特許を申請中です。
　　正式に取得し次第、ご報告いたします。