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　　SynTest Technologies, Inc.、DFT解説書を発行
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　　 弊社の親会社であるSynTest Technologies, Inc.は、この程「VLSI TEST
     PRINCIPLES AND ARCHITECTURES」をELSEVIER社から出版しました。
     以下に目次を示します。　　
　　
　 　1 Introduction 
　 　2 Design for Testability
     3 Logic and Fault Simulation
 　　4 Test Generation
     5 Logic Built-In Self-Test
     6 Test Compression
     7 Logic Diagnosis
     8 Memory Testing and Built-In Self Test
     9 Memory Diagnosis and Built-In Self-Repair
    10 Boundary Scan and Core-Based Testing
    11 Analog and Mixed-Signal Testing
    12 Test Technology Trends in the Nanometer Age

　　より詳細にお知りになりたい方は、下記のURLを訪れてください。
　　　　http://www.books.elsevier.com/